spektrometre

• yarık (slit, 10um), spektral ayna (grating ) ve dedektörlerden oluşan ,vakumlu veya vakumsuz optik sisteme sahip analiz cihazı. genellikle optik emisyon spektrometre (oes ) diye adlandırılır. icp (inductively couple plasma) spektrometre sıvıdan analiz yapar. dedektör olarak geçmişte eski radyolarda kullanılan lambalara benzeyen fototüp kullanılıyorken bugün ccd (charged coupled dedector) ler yaygınlaşmıştır. iletken metal numuneye genellikle 100 - 1000 hz civarında yüksek gerilimli ac voltaj , tungsten elektrod ile argon atmosferde "spark" yaptırılır, aynen kaynak yapar gibi oluşan beyaz ışık , spektral ayna (grating ) tarafından gökkuşağı gibi renklerine ayrılır. her elementin farklı nm lerde ışık vermesi (mesela karbon 193 nm) nedeniyle , uygun şekilde yerleştirilmiş dedektörler bu tek renk ışığı algılar ve ışık şiddetine göre bir voltaj üretirler. bu voltajın büyüklüğü ,metal içindeki o elementin miktarı ile orantılıdır. analog dijital çeviriciler bu sinyali bilgisayara ileterek ekranda bunu % değerine çevirirler. metal sektöründe ölçülen dalga boyu aralığı genellikle 160 nm ile 800 nm arasındadır. taşınabilir olanları da vardır. argon kullanmayıp , dc kaynak kullanarak "ark" tekniği ile de çalışabilirler, ancak bunlar 200 nm üzerindeki elementleri ölçebilirler (karbon ark yöntemi ile ölçülemez) , bu sistem daha çok ayırma (sorting ) amaçlı kullanılabilir. optikte vakum kullanılmasının amacı da hava ve nemi ortamdan uzaklaştırarak 190 nm altında düşük dalga boylu fosfor (178.3 nm) , kükürt (180.7 nm) vs. gibi elementleri ölçebilmektir.
  gelişen teknoloji eskinin bir odayı dolduran cihazlarını bugün çok küçültmüş, bilgisayarın da devreye girmesi ile analiz hızını ve olanaklarını artırmıştır.